罗德与施瓦茨R/S FSPN26频谱相噪测试仪 

罗德与施瓦茨FSW26信号与频谱分析仪

RS FSPN26频谱相噪测试仪附加的功能：

在 10 kHz 偏移（1 GHz 载波）下的低相位噪声为 –137 dBc (1 Hz)

用于 WCDMA ACLR 测量的 –88 dBc 动态范围（带噪声消除）

高达 2 GHz 的分析带宽

< 0.4 dB 总测量不确定度高达 8 GHz

高达 512 MHz 带宽的实时分析

高分辨率 12.1" (31 cm) 触摸屏，操作方便

多个测量应用程序可以并行运行和显示

RS FSPN26频谱相噪测试仪

回收实验室设备频谱分析仪FSW26

商品详情：

频率范围覆盖从2 Hz 至 8/13.6/26.5/43.5 GHz （加外部谐波混频器可扩展至110GHz）

相位噪声低至-137dBc/Hz频偏

数显示模式使诊断测试结果和按照标准预先定义的限制线非常容易的显示在仪器的屏幕上。同时，该测试仪器支

持调幅和调频信号的解调功能。解调后的信号可以通过音频信道输出给扬声器或耳机，以此清晰的分辨干扰信号

WCDMA 邻信道功率比测试88dB动态范围(噪声消除功能打开)

二手FSW26160MHz分析带宽

8 GHz范围内低至0.4dB测量不确定度

FSW26高分辨率的12.1寸触摸屏方便操作

支持多任务并行测量及显示

射频性能满足苛刻需求

? FSW26好的相位噪声 – 是雷达和通信应用振荡器测试的理想工具

振荡器，频率合成器和发射机系统的研发人员将从R&S?FSW突出的相位噪声测量动态范围性能中获益。在偏离载波中心频率10kHz位置，R&S?FSW相位噪声在1GHz中心频率处

可达到-137dBc（1Hz），而在10GHz中心频率处可达到-128dBc（1Hz）。FSW26偏离载波中心频率100kHz位置，相位噪声在相同中心频率处分别为-110dBc（1Hz）和-90dBc（1Hz）.

在相位噪声性能上R&S?FSW越前一代分析仪多达10dB。

FSW26相位噪声在1GHz中心频率，10kHz偏离处为 -137dBc（1Hz）

? 低显示平均噪声电平带来*的杂散测试动态范围

显示平均噪声电平（DANL）在未使用预放大器条件下，2GHz频率处低至-159dBm（1Hz）而25GHz频率处低至-150dBm（1Hz）。R&S?FSW可在宽频率范围内提供快速而可靠的杂散测试。

显示平均噪声电平可通过选择使用噪声消除功能而进一步改善13dB。FSW26用户可确认之前隐藏在噪底之下的极小杂散信号从而有效地优化发射机系统。

? FSW26内置高通滤波器简化谐波测试

R&S?FSW可选配可切换使用的高通滤波器（R&S?FSW-B13）进行频率至1.5GHz的发射机系统谐波测试。与传统的频谱分析仪相比可获得明显的动态范围改善。无需外部滤波器，可方

便针对GSM, CDMA, WCDMA, LTE 和TETRA FSW26系统进行测试系统的搭建。

低频段内提供高选择性

FSW26高度

R&S®FSPN 相位噪声分析仪和 VCO 测试仪

RS FSPN26频谱相噪测试仪

非凡的灵敏度满足高速度要求

主要特点

· 优异的相位噪声分析仪和 VCO 测试仪采用基于硬件实现的实时互相关技术，测量速度基本单元采用双合成器和互相关技术，支持非常灵敏的相位噪声测量，1 GHz 载波频率、10 kHz 偏移条件下相位噪声典型值为 –163 dBc (1 Hz)频率范围介于 1 MHz 至 26.5 GHz噪声极低的内部直流源，便于自动进行 VCO 特性测量同时测量相位噪声和幅度噪声

RS FSPN26频谱相噪测试仪

提高实验室和生产中相位噪声测量的效率和可重复性

R&S®FSPN 相位噪声分析仪和 VCO 测试仪旨在提供出色的灵敏度和测量速度，以便生产和设计工程师测量合成器、压控振荡器、恒温晶体振荡器和介质振荡器等信号源的特性。这款仪器非常适用于在严苛的开发和生产应用中进行相位噪声和 VCO 分析。

仪器配备两个低相位噪声合成器和实时互相关引擎以提高测量灵敏度，只需少量的互相关即可在生产中测量高质量振荡器、合成器或压控振荡器。增加互相关数量，能够在研发中测量极为灵敏的商用合成器和振荡器的特性。