一、适用范围

快速温度变化箱适用于电子元气件在快速温度变化条件下的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

二、满足标准

试验方法：GB/T 2423.1-2008 试验A：低温试验方法

      GB/T 2423.2-2008 试验B：高温试验方法

      GB/T2423.3—2006 恒定湿热试验方法

      GB/T2423.4—2008交变湿热试验方法

      GB/T2423.22—2008温度变化试验方法 试验Nb

      GB/T2423.9-2001 设备用恒定湿热试验方法

      GJB150.3A—2009 高温试验

      GJB150.4A—2009 低温试验

      GJB150.9A-2009 湿热试验

      GJB1032-1990 电子产品环境应力筛选试验方法

制造标准：GB/T10589-2008 低温试验箱技术条件

      GB/T 10586-2006 湿热试验箱技术条件

      GB/T11158-2008 高温试验箱技术条件

      GB T5170.1-2008 电工电子产业环境试验设备检验方法 总则

      GB/T5170.2-2008湿热试验设备检验方法 温度试验设备

      GB-T5170.5-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 湿热试验设备

三、 主要技术指标

箱体：

1、工作室尺寸

 W600mm × H700mm × D500 mm 

2、外形尺寸

以实物为准

温度：

1、温度范围

-70℃ ～ +150℃

2、温度偏差

≤±2.0℃ （空载）

3、温度波动度

≤±0.5℃(空载）

4、温度均匀度

≤±2.0℃

5、升温时间

由-40℃升至+125℃约需11分钟

(空载，全程温度非线性变化15℃/min)

6、降温时间

由125℃升至-40℃约需11分钟

(空载，全程温度非线性变化15℃/min)