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精微影像仪MicroLine 300

详细说明更新时间:2018-07-19 10:48 浏览次数:43
 关键尺寸的自动化光学测量系统

 

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MicroLineTM 300影像测量仪是一款高性能测量晶圆、光罩、MEMS和其他微加工设备等关键尺寸的自动化测量系统。该系统配备了高质量光学显微镜和精密移动平台,可对value="200" tcsc="0" unitname="mm" w:st="on">200mm的晶圆上0.5µm400µm的特征尺寸进行全自动的精密视场测量。

 

n  200 x value="200" tcsc="0" unitname="mm" w:st="on">200mm精密X-Y平台

n  基于视觉的自动聚焦获得最佳影像质量

n  自动照明可编程光强

n  用于测量透明层、不规则边缘的线、厚膜等的强劲性能

n  完全可编程的序列,包括自动聚焦关键尺寸测量

n  电动的6目物镜转换器,软件控制

n  可选的透射照明

 

技术规格:

测量行程: 200 x 200 x value="25" tcsc="0" unitname="mm" w:st="on">25mm (XYZ)

平台运行交叉滚轴手动同轴**和快速释放

视场内的测量精度: 0.010µm (100x物镜)

特征尺寸视场内0.5µm - 400µm

- FOV测量重复性: <0.010µm on wafers (100x物镜)

<0.005µm on photomasks (100x物镜)

照明石英卤素灯反射光

       自动照明

低噪音CCD VGA格式摄像头

图像处理60帧每秒

 

MicroLine 300的典型应用包括:

l  晶圆

l  光罩

l  MEMS

l  微型组件

 

测量类型:

n  关键尺寸:

线宽  Linewidth

节距  Pitch

间隙  Spacing

 

n  Overlay

             Multi-layer registration

Box in box

Circle

Edge roughness

Butting error

精微影像仪MicroLine 300
产品网址:http://www.kuqiw.cn/4997/2829664.html
品牌 VIEW 单价 1.00元/台 起订 1 台
供货总量 180 台 发货期限 自买家付款之日起 60 天内发货 所在地 江苏 苏州市

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